Le Zeiss Geminisem 300 peut effectuer l'imagerie électronique secondaire INLENS et l'imagerie électronique rétrodiffusée simultanément avec une résolution allant jusqu'à 0,7 nm. Il peut réaliser l'imagerie rapide, de haute qualité et sans distorsion à grande échelle et sans nano. Le détecteur EDS avec une fenêtre de 100 mm2 peut effectuer une détermination quantitative en temps réel des éléments de point, de ligne et de zone. Le détecteur EBSD peut collecter EBSP sans distorsion et en résolution mégapixel pour une analyse détaillée de contrainte et de phase.

Le Spectro ArcOS ICP-OS a une structure verticale à double observation (DSOI) qui augmente la sensibilité et élimine les problèmes de compatibilité contamination / matrice. Son système optique ORCA peut capturer des spectres dans la plage de 130-770 nm. Par rapport aux systèmes à base d'Echelle avec une dispersion transversale en utilisant un réseau et un prisme de pas moyen, il offre des performances dans la gamme UV / VUV avec une intensité de signal photoacoustique allant jusqu'à 5 fois plus.

Le Spectrolab est composé du système d'enregistrement des détecteurs basé sur les CMOS au monde, ce qui le rend idéal pour l'analyse des métaux haut de gamme. Il fournit une analyse extrêmement rapide, très précise et exceptionnellement flexible pour des applications allant des oligo-éléments à la multi-matrice.

Le Jena Novaa 800F dispose d'un carrousel intégré avec un lecteur RFID pour 8 lampes cathodiques creuses codées, de la correction d'arrière-plan du deutérium, d'un banc optique éprouvé en mode simple et double faisceau ainsi que en mode émission, et le dernier détecteur à l'état solide SioSens. Ses multiples accessoires intelligents maximisent la productivité, la sécurité et la facilité d'utilisation pour les routines analytiques.

Le système de test de matériaux universels 68TM-30 a des capteurs de charge de 30 kN et 1Kn avec une précision de 0,5 de qualité dans la plage de 0,1 à 100%. Le système de test peut effectuer un contrôle et une acquisition de données fermées de données intégrées, ainsi que l'identification automatique et l'étalonnage des capteurs. Son extenomètre vidéo sans contactement à haute précision AVE2 a une résolution de 0,5 μm et utilise un système d'éclairage polarisé et des ventilateurs CDAT breveté pour éliminer l'influence du personnel, de l'éclairage et du flux d'air sur les résultats du test pour une mesure de déformation hautement répétable et précise.

Le projet VR-5200 utilise une lumière structurée rayée et un capteur CMOS de haute précision pour capturer des images et mesurer la hauteur et la position de chaque point. Équipé d'une lentille à faible puissance, il peut mesurer les plages jusqu'à 200 × 100 × 50 mm. La lentille à haute magnification réduit la résolution d'affichage à 0,1 μm, permettant une mesure par lots sans contact de la forme, de la fluctuation et de la rugosité.

L'IM-8020 utilise un double objectif télécentrique avec des capacités de détection de bord exceptionnelles pour mesurer des échantillons de hauteurs variables en un seul clic. Ses performances de détection sont 3 fois celles des modèles conventionnels grâce à son CMOS de 20 mégapixels et à son nouvel algorithme de détection de bord. Avec une zone de mesure de 300 mm × 200 mm et deux fois la vitesse des modèles traditionnels, il peut mesurer jusqu'à 300 parties en quelques secondes. Cela permet des mesures rapides, précises et faciles, améliorant considérablement la précision tout en réduisant le temps de mesure et l'erreur humaine.

L'analyseur de particules laser HELOS / BR est équipé d'une unité de dispersion sec Rodos puissante et robuste pour une analyse rapide et répétable de la taille des particules d'échantillons secs. Il a une plage de mesure de 0,3 à 175 μm et une précision inférieure à 0,3%.

Le Jupiter STA 449F3 est un instrument robuste, flexible et facile à utiliser qui détermine simultanément les effets caloriques et la variation de masse. Il combine un DSC à flux de chaleur haute performance avec une thermobalance qui a une résolution de microgramme, offrant une charge d'échantillon et une plage de mesure inégalées.